Optical characterization and bandgap engineering of flat and wrinkle-textured FA0.83Cs0.17Pb(I1 − xBrx)3 perovskite thin films
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Año de publicación: 2018
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Año de publicación: 2018
On the Appearence of Wrinkled Morphology for CsxFA1-xPb(I1 −yBry)3 Perovskite Compositions and the Impact on Solar Cell Performance
Año de publicación: 2018
Año de publicación: 2018
Passivation of Liquid‐Phase Crystallized Silicon With PECVD‐SiNx and PECVD‐SiNx/SiOx
Año de publicación: 2018
Año de publicación: 2018
Optical characterization and bandgap engineering of flat and wrinkle-textured FA0.83Cs0.17Pb(I1 − xBrx)3 perovskite thin films
Año de publicación: 2018
Año de publicación: 2018
Determination of the complex refractive index and optical bandgap of CH3NH3PbI3 thin films
Año de publicación: 2017
Año de publicación: 2017
Passivation at the interface between liquid-phase crystallized silicon and silicon oxynitride in thin film solar cells
Progress in Photovoltaics: Research and Applications 25: 515–524
Año de publicación: 2017
Progress in Photovoltaics: Research and Applications 25: 515–524
Año de publicación: 2017
Production and Characterization of Tb3+/Yb3+ Co-Activated AlON Thin Films for Down Conversion Applications in Photovoltaic Cells
MRS Advances, Vol. 2, Issue 52 (Electronic Devices and Materials), 2989-2995
Año de publicación: 2017
MRS Advances, Vol. 2, Issue 52 (Electronic Devices and Materials), 2989-2995
Año de publicación: 2017
Effect of Post-annealing Treatment on the Structure and Luminescence Properties of AIN:Tb 3+ Thin Films Prepared by Radio Frequency Magnetron Sputtering
Mater Sci. Forum 890, 299-302 (2017) Mater Sci. Forum 890, 299-302
Año de publicación: 2017
Mater Sci. Forum 890, 299-302 (2017) Mater Sci. Forum 890, 299-302
Año de publicación: 2017
Effect of thermal annealing treatments on the optical activation of Tb3+ doped amorphous SiC:H thin films
J. Phys. D: Appl. Phys. 49 (2016) 375104
Año de publicación: 2016
J. Phys. D: Appl. Phys. 49 (2016) 375104
Año de publicación: 2016
Interface passivation of liquid-phase crystallized silicon on glass studied with high-frequency capacitance-voltage measurements
Phys. Status Solidi A 213, No. 7, 1697–1704 (2016), DOI 10.1002/pssa.201532957
Año de publicación: 2016
Phys. Status Solidi A 213, No. 7, 1697–1704 (2016), DOI 10.1002/pssa.201532957
Año de publicación: 2016