En este proyecto de investigación nos proponemos caracterizar y medir la forma de superficies con resolución de nanómetros, con este propósito se instrumentará un dispositivo de microscopia interferencial con sistema de visión que permitirá la captura de imágenes de la superficie superpuestas con franjas de interferencia, estas imágenes son conocidas como interferogramas. Se aplicarán los siguientes algoritmos de procesamiento de imágenes a los interferogramas: la transformada de Fourier bidimensional y la técnica de pasos de fase, para obtener la fase óptica de la luz que se refleja desde la superficie cuya morfología se desea caracterizar. Con la fase óptica se obtendrá la forma superficial, en especial se tiene interés en aplicar estas técnicas a diversos tipos de películas delgadas depositados sobre sustratos de vidrio. Si alguna zona del interferograma involucra un escalón de altura entre la película y el substrato se puede determinar su grosor, además de parámetros de rugosidad superficial. En el microscopio interferencial se empleará las modernas fuentes de luz LED superluminiscentes que son de bajo costo y se estudiará la influencia de la longitud de coherencia y longitud de onda de estas fuentes en la formación de los interferogramas. Existe interés de investigadores de varios laboratorios nacionales (UNT, UNI, PUCP) dedicados a investigar propiedades fundamentales de películas delgadas en determinar la morfología superficial. Mediante este proyecto se iniciará un acuerdo de colaboración con el Laboratorio de Ciencia de los Materiales de la Universidad Nacional de Trujillo a través del profesor Luis Manuel Angelats Silva, quién es coordinador de la Sección de Nanociencia y Nanotecnología, quién nos proveerá de las películas delgadas objeto de estudio.